二手 RUDOLPH MPIIIA 300 #9411954 待售

RUDOLPH MPIIIA 300是一種高性能晶圓測試和計量設備，由RUDOLPH Technologies開發。該系統專為半導體晶片的光學檢測和電氣測試而設計。MPIIIA 300是RUDOLPH高性能檢驗計量產品線的最新版本。它促進了晶圓制造過程的高效、準確和經濟高效的處理。該單元允許正面和背面計量以及缺陷檢查,而無需更改任何硬件部件。RUDOLPH MPIIIA 300配備先進技術，提供可靠的缺陷檢測和精確測量。例如,它采用專有的無損光學臨界尺寸測量（OCD）檢測技術,用於快速、準確和無損的橫向尺寸測量。此外，該機器還利用獲得專利的4D檢測技術，幫助以高精度識別低至60納米的窄線寬。MPIIIA 300還具有一個強大的視覺庫和一個自適應學習算法，可以高精度地捕捉模式的圖像。它有一個先進的成像工具，具有用於測量整個晶圓的大視野。此外，該資產能夠在紫外線範圍內進行二維成像，並且能夠在晶圓表面上進行表面計量。RUDOLPH MPIIA 300高度可定制,可配備一系列軟件選項和附件。所有這些功能都提高了其在任何應用程序上的整體性能。此外,RUDOLPH Technologies還提供全面的校準跟蹤、客戶服務和客戶支持,以確保客戶滿意。總而言之，MPIIIA 300是一個先進的、具有成本效益的晶圓測試和計量模型，它優化了半導體測試和計量過程的可靠性和準確性。它的先進技術和靈活性為半導體行業的客戶提供了一系列好處。