二手 RUDOLPH Reflex TT #293671014 待售

ID: 293671014
優質的: 2012
Wafer defect inspection system 2012 vintage.
RUDOLPH Reflex TT是一種尖端晶圓測試和計量設備,結合了先進的光學和專有的模式識別算法,提供高精度、非接觸式的半導體晶圓測試和測量。反射TT系統能夠表征半導體晶片的各種表面特征和特性,包括凸點高度、光伏電池尺寸和漿液塗層。此外,它還具有自動圖像分析功能,可以快速全面地描述目標應用程序。RUDOLPH Reflex TT單元有多個組件,共同努力在短時間內提供準確的結果。它由晶圓處理程序、機器視覺機、照明工具和模式識別資產組成。晶圓處理程序是自動的機器人模型,用於處理晶圓並將其放置在工作臺上。Machine Vision Equipment是數碼相機和光學器件的組合,捕捉晶圓的高分辨率圖像。照明系統提供必要的照明,以提高拍攝圖像的質量。最後,模式識別單元是利用獲取的圖像生成測試結果的計算機。反射TT工具比傳統的測試方法有幾個好處。首先,它提供半導體晶片的非接觸式測試。這樣可以消除在測試過程中損壞晶片的風險。其次,高速成像和模式識別技術使RUDOLPH Reflex TT資產能夠提供比手動系統更快速、更準確的測量。此外,該模型具有高達0.1微米的高精度,可確保精確可靠的結果。總體而言,Reflex TT是一種先進、高效的晶圓測試和計量設備。它采用堅固的組件和先進的光學和成像系統設計,以最小的工作量提供高精度測量。此外,它的自動化和非接觸能力消除了在測試過程中損壞晶片的風險,從而產生準確和可靠的結果。最後,它的速度和精度使半導體晶片的快速和精確測量成為半導體工業的寶貴資產。
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