二手 RUDOLPH WS 3880 #293701811 待售

ID: 293701811
優質的: 2014
Wafer inspection system 2014 vintage.
RUDOLPH WS 3880是一種晶圓測試和計量設備,設計用於測量各種高精度材料的精確尺寸。該系統提供多種測量解決方案,包括高分辨率光學顯微鏡、集成手寫筆計量學和數字視頻計量學,用於更復雜的測量。RUDOLPH WS3880具有強大的光學單元,能夠以一致的精度解析亞微米級特性。機器提供自動化的圖像采集、測量和分析,允許用戶加快自己獨特的測量需求。它有一個雙級工作臺,可以精確測量各種樣品,包括厚度達30毫米的薄片。其直觀的用戶界面使自定義、配置和操作該工具變得容易,從而能夠快速輕松地識別出所需的測量值。該資產配備了包括各種光學元件在內的高分辨率成像模型,包括一個16倍的顯微鏡,放大倍率為1倍至10倍,以及一個可選的CCD攝像頭。這種高度可配置的設置能夠通過控制良好的成像設備提供高水平的圖像分辨率。可選的CCD攝像頭使用戶能夠捕捉靜止圖像和視頻,也可用於測量高速運動或快速變化的特征。該系統提供各種計量選項,包括手寫筆、光學和視頻計量。手寫筆計量學使用戶能夠在高可重復性和分辨率限制的情況下,進行低至0.1 um的精細測量。光學計量單元使用激光幹涉儀進行最高精度和精度的總測量,使用數字視頻顯微鏡測量甚至最復雜的特征。除了機器的標準特性外,還可以通過可選配件擴展到滿足用戶不斷變化的要求。這包括一系列傳感器和探頭,用於額外的計量功能,如主動隔振和PVD力傳感器。諸如Job Manager之類的功能允許用戶為經常性任務開發和保存自定義測量計劃。它的自動化階段校準確保了階段總是正確定位可靠和可重復的結果。WS 3880是一種可靠和通用的工具,適用於半導體生產和研究實驗室的監測和計量。其高精度、重復性和50微米的指向精度使其成為晶圓測試和計量的理想解決方案。
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