二手 SDI SPV 1010 #138847 待售

SDI SPV 1010是一種晶圓測試和計量設備，設計用於產生晶圓的亞微米測量。利用光學幹涉測量技術，該機能夠在半導體加工制造任務中提供高精度、重復性和分辨率。該系統由采樣級、照明源和照相機/光學單元組成。樣品級能夠處理直徑達200毫米的晶片。照明源能夠提供背光、頂光和側光照明，目的是進行平坦度、凹槽或位置測試。相機/光學機器包含CCD相機、物鏡和DMD鏡。SPV 1010還有利於晶圓的表面粗糙度和橫截面表面質量分析。利用直接平面技術（DIPT），可以對晶片表面進行表面粗糙度、表面形狀誤差等影響的納米測量。基於斑點的高級幹涉測量（SPI）技術也用於工具的表面測量。SDI SPV 1010結合了圖像處理算法，包括全局和局部特征（GLF和LCL），以確定測量樣品時最合適的參數。這樣可以確保測量的準確性和可靠性很高。SPV 1010的硬件與控制機器運行的軟件集成在一起。直觀的圖形用戶界面使用戶能夠輕松操作,並且無需事先了解資產即可訪問所有功能。該軟件還能夠收集和顯示統計數據以供分析。總體而言，SDI SPV 1010是晶片測試和計量的可靠工具，可用於掃描大晶片、縫合表面和光學圖像對準。該模型在半導體質量保證和檢驗以及晶圓級光電子和微電子工業中有廣泛的應用。