二手 SDI SPV 300 #9157370 待售

SDI SPV 300是一個用途廣泛、功能強大的晶圓測試和計量系統，旨在提供對各種半導體產品的全面洞察。SDI SPV-300擁有最先進的光學和照明系統,可實現晶圓表面的無與倫比的光學覆蓋,確保獲得半導體產品每個單獨組件所需的精確靈敏度和精度。SPV 300利用最新的掃描和成像技術提供測試晶片的全覆蓋。這種先進和全面的掃描系統允許以快速和用戶定義的掃描速率獲取高分辨率圖像。先進的成像過程以及SPV-300提供的靈活性允許獲取跨越各種大小、分辨率和設置的圖像,從而使用戶能夠分析不同波長的晶圓。SDI SPV 300還具有先進的實時計量功能。這樣就能夠以極高的準確性和準確性對測試對象特征進行實時分析和測量，能夠實時評估測試物品的參數，並有效篩選出不符合要求的質量標準或要求的測試物品。SDI利用高速電荷耦合器件（CCD）相機和高疫苗光學系統相結合，在晶圓測試和計量應用方面SPV-300卓越。這主要是由於大量的小型化元件在電子束顯微鏡下呈現時可以容納在晶片上。它還能夠檢查特征尺寸很小的晶片，否則標準顯微鏡或成像系統將看不到這些晶片。SPV 300令人印象深刻的功能集和性能使其成為晶圓測試和計量應用的理想解決方案,尤其是對於精度和質量要求嚴格的半導體產品。其獨特的光學覆蓋範圍和高速成像系統讓用戶對正在測試和測量的晶圓的設備或特征有前所未有的洞察力。因此,SPV-300非常適合用於IoT設備、高級IC等應用程序,以及任何其他需要高精度和高質量的應用程序。