二手 SEMV TASV-01020-VER1 #9406833 待售

SEMV TASV-01020-VER1是一種晶圓測試和計量設備。它是一個完全自動化的獨立系統，由舞臺、光學和軟件組成，用於測量矽晶片上的各種特征，包括厚度、反射率、表面平坦度、材料和電性能。該設備提供高級成像功能,如高分辨率顯微鏡和SEM成像,以及許多其他創新功能和軟件。TASV-01020-VER1階段支持一系列晶圓尺寸和材料。它可以配備升降臺、XY/R θ精密臺，以及用於測量長寬比、平坦度和x-y位置的旋轉臺。可以選擇物鏡，可以連接各種探測器來檢測來自晶圓的信號，並對其進行解釋以進行分析。光學機器設計為提供高精度的成像和測量。CCD相機允許捕獲靜止圖像和視頻,從而使用戶能夠詳細分析樣本。該工具還附帶了廣泛的軟件應用，使其更容易解釋數據並提高結果的準確性。軟件包含用於管理和分析示例數據的各種功能。它包括錯誤檢測、波形分析、模式識別和統計分析。該軟件還使監控晶圓資產、查看趨勢和預測未來性能成為可能。SEMV TASV-01020-VER1是一種具有成本效益的晶圓測試和計量模型,可確保準確高效的數據分析。它非常適合用於研究和工業應用，允許用戶快速獲得各種樣本量和微觀結構的可靠數據。憑借其先進的功能、靈活的性能和易於使用的軟件,TASV-01020-VER1是滿足任何計量需求的強大選擇。