二手 SENSOFAR 3D Surface profilers #293672431 待售

SENSOFAR 3D Surface profilers是一種晶圓測試和計量設備，設計用於對曲面的三維形狀提供極其精確的測量。它利用先進的光學掃描技術，以高分辨率和精確度測量半導體晶片的表面地形。該系統結合了最先進的光學幹涉測量儀器和專有的3D輪廓測量算法，為半導體晶圓測試和分析創造了一個高度精確可靠的工具。先進的光學掃描技術和3D輪廓測量算法使該單元能夠從晶圓表面捕獲高度詳細、準確和精確的形狀測量結果。它不僅測量晶片的表面地形，而且測量晶片表面的各種特征和輪廓。該機器能夠測量各種半導體晶片，包括單晶和多晶晶片、SOI（絕緣體上的矽化物）晶片和粘合晶片。它還測量高度反射的晶片，因此能夠測量表面的廣泛細節。該工具還可以高速、精確地測量薄膜表面。3 D Surface Profiler可在+/-5 nm內提供極其精確的分辨率。它還以高速運行，在短短24秒內生成晶圓的3D輪廓。由於采用了先進的3D剖面圖算法，資產產生的測量和結果非常可靠。該模型具有很高的靈活性和可升級性，使其能夠擴展其能力以滿足客戶的需求。SENSOFAR 3D Surface profilers是一種功能強大且可靠的設備,可提供對半導體晶片的高度精確和詳細的測量。它能夠提供卓越的分辨率和速度,同時保持高可靠性和準確性。這使得它成為那些需要精確測量和分析半導體晶片的人的理想選擇。