二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Chips200 #9043060 待售

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Chips200是一種晶圓測試和計量設備，提供對半導體器件和材料的關鍵電氣、物理和光學特性的精確和實時測量。它允許分析晶圓表面數據,包括特征/應變測量、納米尺度分析和故障分析。該系統融合了一系列獨特的成像技術，包括光學偏振成像、暗場成像和電子反向散射衍射（EBSD）。這些技術允許對各種特征（如晶界、界面粗糙度和微缺陷）進行高分辨率成像和功能特定分析。該單元的暗場成像能力使得檢測形態特征成為可能，如位錯、晶界、雙胞胎、氧化層等等。這對於故障分析特別有用,因為它允許用戶觀察和查找各種缺陷。同時，EBSD技術使用電子束來創建晶體取向的衍射圖樣。這可用於精確測量晶片的晶體結構，提供晶體取向、晶粒大小和晶體缺陷的信息。該機還配備了先進的晶圓計量能力。它可以自動測量包括CD（臨界尺寸）、接觸孔大小、線寬和叠加在內的三維參數。這樣，SEIKO Chips200可以快速生成可用於評估設備性能的數據。該工具易於設置和使用。它帶有圖形用戶界面（GUI），即使對於沒有經驗的用戶也是直觀的。它還具有高度自動化的操作和數據輸入功能,使其非常高效和經濟高效。總體而言，SII NANOTECHNOLOGY Chips200是一種功能強大且用途廣泛的晶圓測試和計量資產。它為半導體器件的高精度測量和分析提供了廣泛的能力。其先進的成像技術和自動化操作使其成為監控設備質量和性能的寶貴工具。