二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293614932 待售

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB晶圓測試和計量設備是一種功能強大的工具,旨在快速、準確地測量、分析和比較不同種類的材料。SEIKO XV-300DB采用先進的光學計量系統，結合了先進的白光幹涉測量（WLI）和多重圖像處理算法。該單元能夠對半導體晶片、晶片基板和其他薄膜的3D光學特性進行高分辨率成像和測量。該機擁有全面的測量套件，包括光學厚度、表面粗糙度、光學晶體和介電特性等特點。它還提供了缺陷模式和故障機制的分析,以及使用3D、X-Y和X-Y-Z數據進行的詳細尺寸分析。該工具為晶片測試和計量提供了廣泛的功能，包括通過缺陷、叠加和SRAM分析進行巖蝕層檢查以及粒子檢查。SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB還支持納米級模式測量和成像，掃描級精度為0.1納米。XV-300DB還提供高級軟件以實現快速、準確的測量、數據分析和工作流自動化。其用戶友好的Easy Mode程序大大減少了學習曲線，使這一資產無論其技術經驗如何，都非常適合任何用戶。用戶可編程的專家模式允許自定義操作設置,使用戶能夠根據其特定的應用程序需求定制測量值。軟件還包括用於晶圓和缺陷數據管理的集成缺陷庫，以及用於缺陷分析和維護的高級分析功能。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB具有一個內置攝像頭,用於對基板進行精確成像和定位,以及手動調整精確對準。該模型還具有符合人體工程學的設計，便於操作。再者，SEIKO XV-300DB兼容了許多配件，包括廣域透鏡、折射鏡、熒光貢獻等等。這些特性使SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB許多不同行業必不可少的多功能計量工具。為確保設備的每個單元都能達到最佳性能水平，XV-300DB配備了遠程輔助技術，可以在線支持和升級。此外,該系統還在經過認證的SEIKO客戶支持中心提供服務,提供全面的維護和維修服務。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB晶圓測試和計量單元是任何需要對薄膜、半導體和其他材料進行準確、可靠和經濟高效的測試和計量的公司的一個很好的工具。精工XV-300DB具有先進的分析功能和強大的硬件,是當今高科技應用的理想選擇。