二手 SOLVISION AV-6010T #9148601 待售

SOLVISION AV-6010T是一種晶片測試和計量設備，設計用於檢測和分析半導體晶片上的缺陷。該系統具有很高的精度和速度，能夠檢測晶圓表面上的小缺陷、晶體和粒子。此外，該單位可以測量晶圓厚度，橢圓偏振和電性能。AV-6010T具有兩個掃描選項-近距離（1-500x）和超高放大倍率（500-30,000 x）。近距離掃描使用戶能夠觀察到表面細節，而超高放大倍率掃描則是查明汙染物和微小顆粒缺陷的理想選擇。為保證精度，該機集成了掃描電子顯微鏡（SEM）、原子力顯微鏡（AFM）、激光多普勒測速儀（LDV）、光譜（Raman、FTIR、VIS）、單色儀等多種技術。除了缺陷檢測和分析之外，SOLVISION AV-6010T還可以使用接觸和非接觸剖面測量晶圓厚度。測量從易碎晶體到剛性材料的各種基材，該工具精確測量從20nm到600uM。此外，該資產還支持多種測量技術，包括光譜橢圓偏振和表面電性能。該模型還與第三方軟件集成，允許用戶控制和傳輸數據。所有控制和測量都通過一個觸摸界面進行管理。易於使用的界面允許在短短10分鐘內完成快速設置和任務。總體而言，AV-6010T是一種全面可靠的設備，專門用於檢測、測量和分析晶片缺陷。有了一系列的選項和功能，系統可以處理不同類型的應用程序的精度和速度。此外,易於使用的界面使數據傳輸和控制變得輕松,為用戶提供了平穩的用戶體驗。