二手 SONOPLOT GIX Microplotter #9303841 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 9303841
System
Non-contact deposition
3-Axis positioning with 20µm resolution
Consistent spot size and shape
Coefficients of variability: <10%
Automated surface height calibration
FireWire camera
With integrated digital video capture
Interchangeable holding platen for substrate size
Computer: iMac.
SONOPLOT GIX Microplotter是一種頂級晶圓測試和計量系統,用於測量半導體晶圓材料的電氣和物理特性。該系統采用多種技術,如掃描電子顯微鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)、激光劃線、紅外(IR)成像、光譜和原子力顯微鏡(AFM)。GIX Microplotter能夠拍攝晶圓材料表面的極高分辨率圖像。這是通過掃描每個晶片而兩個激光器同時掃描整個表面來實現的。這允許精確的細節和精度水平,這是精確測量晶圓材料的性質所必需的。此外,SONOPLOT GIX Microplotter能夠測量小於10微米的區域,從而能夠測量極小的特征。此外,GIX Microplotter還配備了先進的FIB功能,允許在晶圓表面上沈積和去除材料。這是晶片測試和計量中的一個重要工具,因為它允許精確控制表面特征,以便對晶片材料進行精確測試。此外,SONOPLOT GIX Microplotter能夠進行銑削和接觸點測試,以測量電性能。GIX Microplotter還通過軟件包進行了增強,以簡化測試過程。這種基於GUI的軟件提供了一個很好且易於使用的界面,允許輸入各種參數。然後可以將這些參數編程到機器中,機器將根據這些參數和準則獲取數據。僅此功能就大大簡化了晶圓測試和計量。總體而言,SONOPLOT GIX微繪圖儀是一種非常先進的晶圓測試和計量系統,提供了前所未有的精度和精確度。它配備了各種各樣的功能,從高分辨率映像到FIB功能,其軟件驅動的GUI為用戶簡化了流程。使用GIX Microplotter,您可以確信自己正在準確可靠地測量晶片材料的性能。
還沒有評論