二手 SSM 150 #9101487 待售

SSM 150是一種晶圓測試和計量設備，設計用於精確測量半導體晶圓上的復雜結構。該系統包括測試和計量的所有必要組成部分，包括：樣品提升、光學顯微鏡、光掩模、顯微鏡燈、光學線性運動階段、圖像采集單元、定心裝置、視頻顯示、三維跟蹤機和傾斜調節工具。樣品升降機的設計使晶圓樣品直徑達到150毫米，而光學顯微鏡則使用高分辨率透鏡資產，以確保樣品分析時的清晰度和精度。該光掩碼用於精確分析晶圓樣品的復雜區域。顯微鏡燈照亮樣品,使圖樣和特征可以準確地看到.光學線性運動臺將微定位平臺前後移動，使樣品調整到適當位置進行分析。圖像采集模型捕獲樣本的高分辨率圖像,然後將其顯示在視頻監視器上。定心設備有助於確保樣品正確對齊並處於最佳分析位置。3 D跟蹤設備記錄樣品在任何給定位置的方向,傾斜調整系統使用戶能夠在任何方向傾斜樣品,從而提高圖像清晰度。所有這些特征結合起來，創建了一個全面的計量工具，用於深入分析半導體晶片上發現的復雜結構。該單元能夠以極高的分辨率捕獲、分析和存儲數百個晶圓樣品的微觀圖像。從這些圖像獲得的數據可用於各種用途，從質量控制到設計優化。150機器為分析微觀和宏觀尺度的半導體晶片提供了準確可靠的工具。其直觀的設計和多種多樣的特性使SSM 150成為任何晶圓測試或計量實驗室的寶貴工具。