二手 THERMA-WAVE OPTIPROBE 5220I #9171337 待售

THERMA-WAVE OPTIBE PROBE 5220I是一種晶圓測試和計量設備，結合了包括熱成像、光學成像、反射法和表面電容等前沿技術，以精確、快速的測量晶圓特性。該系統提供晶圓平面度、均勻度、厚度、反射率、地形和電容的可靠測量，這些都是芯片制造過程中必不可少的因素。OPTIBE PROBE 5220I是一種高精度、多功能的設備，可以快速測量薄和厚晶圓。利用其多坐標電機控制單元，這臺機器將精確測量薄晶片和厚晶片，精度達到1微米。此外，高分辨率光學顯微鏡工具還提供三維圖像，用戶可以準確地查看和分析地形和光學特性。該資產還采用了THERMA-WAVE專利熱成像模型，該模型利用紅外成像和技術在晶圓和芯片上捕獲熱數據點。該數據用於精確測量表面平坦度、變化和變薄等熱特性。這種設備還可以對熱感應特征或光學感應特征進行剖析，並檢測微觀缺陷。THERMA-WAVE OPTIBE PROBE 5220I是一個完整的系統，提供峰值性能和精度。它包括用於快速校準的快速更改模塊、精確的晶圓卡盤控制和自動調整厚度,以及具有多種報告格式的數據記錄單元以記錄關鍵測量值。OPTIPROBE 5220I具有先進的性能,是晶圓性能測試和分析的理想解決方案。此外,機器的集成軟件使其易於操作,從而使用戶能夠快速訪問其流程所需的數據。該工具是在晶圓測試和計量中產生一致和優異結果的強大而可靠的工具。