二手 THERMA-WAVE OPTIPROBE 7341 #9123268 待售
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THERMA-WAVE Optiprobe 7341是一種先進的晶圓測試和計量設備，用於測量半導體晶圓的表面和地形以及測量薄膜材料。它是一個高度精確、無損的計量系統，提供了半導體晶片和薄膜材料的優越的3D表面表征。該單元設計用於執行廣泛的測量,包括：表面粗糙度、步長、寬度、深度、輪廓和橫截面曲面輪廓測量。Optiprobe 7341能夠測量高長寬比以及低長寬比、掃描速度高達270 mm/秒的晶片（長視選項可高達1000 mm/秒）。THERMA-WAVE Optiprobe 7341能夠生成與晶圓表面和地形有關的各種定量數據。這包括從Zernike系數到立體表示的一系列工程質量保證指標。Optiprobe 7341還能夠生成高分辨率圖像和各種其他輸出,包括相對高度和彩色圖像,用於視覺比較和集成缺陷檢測。THERMA-WAVE Optiprobe 7341配備了集成軟件套件，允許用戶以最小的編程開發自定義計量應用程序。該軟件設計為易於使用、直觀且功能豐富,使用戶能夠快速分析數據、識別趨勢並輕松生成報告。該軟件還提供了功能強大的基於圖像的缺陷檢測功能。Optiprobe 7341是一種全自動機器,它通過向用戶提供各種晶圓類型和尺寸的高精度結果來滿足最苛刻的生產測試要求。它配備了光學顯微鏡、觸摸屏控制器和自動探針工具。探測資產由Z級組成,可連續掃描樣品表面。顯微鏡采用高分辨率數碼相機來獲取被掃描表面的圖像。THERMA-WAVE Optiprobe 7341是大體積半導體生產理想的晶圓測試和計量模型，設計用於在廣泛的加工和檢驗步驟中測量晶圓。其強大的軟件功能使用戶能夠快速獲得半導體晶片上的自動化3D表征結果,從而為晶片缺陷識別、故障分析和過程優化生成及時而準確的度量標準。
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