二手 THERMA-WAVE TP 300 #112387 待售
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THERMA-WAVE TP 300是一種晶圓測試和計量設備，設計用於半導體制造過程。該系統提供高精度測量,並提供準確的計量數據,可用於提高設備性能、提高產量和改進整個過程控制。該單元具有專用的全場測量機器，具有銳度和靈敏度，可以測量晶圓厚度的微小變化。它使用光學衍射光柵，這是由數百個精確設計的激光線，以獲取測量。這個工具可以用來測量單個晶片的厚度，不同厚度的多個晶片，或者相同厚度的多個晶片。該資產支持廣泛的精密計量工具，包括光學散射儀、光學剖面儀、掃描隧道顯微鏡和X射線衍射儀。它還包括一整套數據分析和質量控制功能。TP 300模型還具有高速數據采集和分析能力。通過設備的編程邏輯，它可以快速準確地捕獲數據，使用戶能夠微調他們的過程控制，產生更高質量的產品。該系統為用戶提供了生成報告的能力，其中包括有關每個晶片性能的詳細信息，采用多種格式，如文本或圖形報告。這樣可以確保用戶擁有在開發新流程和優化現有流程時做出明智決策所需的數據。該單元旨在與所有主要的過程控制軟件和工具兼容，為用戶在實施質量控制措施時提供最大的靈活性。它由半專業、精密的儀表提供動力，並有一臺校準機，用戶可以隨時間推移保持測量的準確性。總體而言，THERMA-WAVE TP 300是一種多功能、高性能的計量工具，旨在滿足現代半導體制造工藝的需求。憑借其先進的數據采集和分析功能,它可以快速準確地測量晶圓厚度,從而使用戶能夠做出明智的過程決策。
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