二手 THERMA-WAVE TP 3300 #9093527 待售

THERMA-WAVE TP 3300是一種精密晶片測試和計量設備，設計用於為半導體晶片提供準確可靠的結果。該系統采用光學技術、掃描電子顯微鏡（SEMs）、熱成像以及多種其他先進技術的組合，實現無與倫比的精確測量。它被半導體工業用來產生一致、準確的薄膜數據，使得高質量的半導體產品得以發展。該單元從自動晶圓級對準和測試開始。對準機結合了光學顯微鏡、觸覺感應和激光掃描，以檢測和映射晶圓表面的物理特征。然後利用這些信息精確定位薄膜探頭，從而實現更好的測量精度和重復性。該工具還包括各種熱測試方法，如紅外熱成像和熱成像，以表征晶圓的熱特性，包括導熱系數、熱電阻率和熱容量。此信息用於分析設備的關鍵參數,如工藝溫度、熱流和熱效率。資產還包括先進的掃描電子顯微鏡（SEM），可以對晶圓的微觀結構進行更深入的分析。通過使用高分辨率的SEM成像和分析，模型可以表征晶片的元件形狀、晶粒大小和物理缺陷。此信息與熱測試中的其他數據相結合,提供了設備性能的完整信息。此外，TP 3300設備還包括多種其他先進的計量技術，如近場掃描顯微鏡（NSM）、電容-電壓（CV）計和剖面儀。這些工具可以對晶片的特性進行更全面的分析，從而能夠開發高質量、可靠的半導體器件。THERMA-WAVE TP 3300系統是一個先進的晶圓測試和計量平臺，為生產高質量、可靠的半導體器件提供精確、可靠、全面的數據。它結合了對準、熱測試和掃描電子顯微鏡，使其成為任何半導體制造操作的寶貴工具。