二手 THERMA-WAVE TP 3300 #9105606 待售

THERMA-WAVE TP 3300是一種晶圓測試和計量設備，為先進半導體和MEMS器件的制造商提供快速、可靠的物理檢查和產量分析。該系統利用紅外熱成像來表征無法通過常規光學方法揭示的物理缺陷。該單元依靠功能齊全的600 x 600像素陣列檢測器提供卓越的熱對比度。對於各種晶圓材料和厚度，探測器在接近最佳光譜範圍內與成像光學器件同步。該設備還配備了先進的處理計算機和自動化控制軟件，用於快速、可靠地測試圖樣晶片。TP 3300的高分辨率成像功能得到高級故障定位功能和缺陷驗證的補充,以確保對每個晶片進行準確徹底的檢查。設備的熱成像還減少了晶圓上熱點之間的熱梯度,並且無需手動調整溫度。此外,該單元還具有「One-Touch」功能,可輕松進行設置和晶圓分析。集成的機器還包括一個可互換的測試頭設計，允許優化的過程速度和更簡單的重新配置和升級。最後,該工具具有符合人體工程學的設計,易於手動覆蓋手動測試選項。THERMA-WAVE TP 3300的測試能力適用於許多不同的晶圓類型和工藝環境。它與工業標準晶片材料如sili-con、GaAs、SOI晶片兼容，還具有檢測藍寶石、GaN、金屬堆棧基板故障的能力。該資產還通過國際SEMI高級晶圓測試標準認證，與許多領先的計量工具兼容。總體而言，TP 3300晶圓測試和計量模型是先進半導體和MEMS器件制造商的理想解決方案。它的自動化光學和熱成像功能提供了比手動方法更快、更可靠的晶圓檢查,而且直觀的用戶界面和測試頭設計使其成為生產和研究環境的絕佳選擇。