二手 TOKYO SEIMITSU DIAH84 #187300 待售

TOKYO SEIMITSU DIAH84是一種高精度的自動化晶片測試和計量設備，設計用於測量和分析半導體晶片的特性。它利用光學成像和計量技術的最新技術來測量晶片的各個方面，包括圖樣尺寸和表面地形。該系統由光學顯微鏡和綜合計量成像單元組成。顯微鏡由兩個獨立的光學成像和計量系統（開放閉合型）組成，串聯工作以拍攝晶圓的圖像。這兩個系統的高數值孔徑為0.85,高放大倍數可達200倍,實現了極高的精度測量。集成的計量和成像機配備了一個旋轉級，提供快速和方便地訪問晶圓的所有表面。旋轉臺定位精度高，轉速高。此外，DIAH84還擁有內置激光幹涉儀，能夠精確、高精度地測量光學特性，如厚度、表面粗糙度和形狀。使用此工具,用戶可以輕松地測量晶圓表面上微小而復雜的圖樣的輪廓。激光幹涉儀還保證了未來測量的高重復性。此外,該資產還具有高速圖像處理模塊,使用戶能夠快速獲得準確和高分辨率的測量結果。利用其易於使用的圖形用戶界面，可以在沒有任何計量學的先驗知識的情況下操作模型。TOKYO SEIMITSU DIAH84是晶圓測試和計量的強大且高度精確的工具，適合各種研究和工業應用，如過程控制和故障排除。該設備具有光纖可訪問性，易於移動，可用於各種制造和實驗室環境。它是需要高度精確晶圓測試能力的工業用戶的理想工具。