二手 TOKYO SEIMITSU YR-60 #9156520 待售

TOKYO SEIMITSU YR-60晶圓測試和計量設備是測量半導體芯片微觀結構的有力工具。該系統利用先進的圖像捕捉技術，呈現出晶圓內部結構的精確畫面。它是一個高效的單元，能夠快速反饋制造的半導體芯片的質量。這使制造商能夠快速確定其產品是否符合所需的規格,並確保其產品符合有效使用所需的質量標準。這臺機器的核心是收集晶圓結構數據的傳感器。它采用了多種數據捕獲方法,包括紅外光、紫外線和可見光,以確保捕獲準確的圖像。這些傳感器和圖像捕獲技術還能夠檢測晶圓的電性能，如瞬態電流、電荷和電容。YR-60還設有一個控制單元，用於處理傳感器收集的數據。此控制單元能夠進行廣泛的測量,例如幾何尺寸、粗糙度和其他物理屬性。此外，控制單元能夠執行過程控制功能，如補償溫度漂移或其他可能影響測量的環境因素。TOKYO SEIMITSU YR-60還配備了一整套軟件工具，幫助操作員分析該工具收集的數據。軟件工具包括各種圖表和圖形功能,以及計算缺陷大小、缺陷類型和過程產量等數據的適用性。YR-60是準確測量半導體芯片微觀結構的有效方法。它是一個可靠的工具，可以為制造商提供快速的結果，並確保他們的產品符合要求的質量標準。該資產是任何半導體生產設施必不可少的設備。