二手 TOKYO SEIMITSU YR-60 #9258195 待售

TOKYO SEIMITSU YR-60
ID: 9258195
優質的: 1985
Wafer surface measurement system 1985 vintage.
TOKYO SEIMITSU YR-60是一種高度先進的晶圓測試和計量設備,設計用於檢查半導體晶圓的性能。利用基於視覺的技術,YR-60可以精確檢查整個晶片表面,包括不規則形狀或彎曲晶片。該系統包括一個用於高精度晶圓厚度測量的自動X射線裝置,以及一個具有3D檢測能力的微觀測量站。此外,高分辨率成像是由一臺先進的攝像機提供的,具有寬廣的顯微鏡範圍和控制傳感器。先進的相機工具可以方便地對準,提供卓越的能見度,以確保精確的測量。TOKYO SEIMITSU YR-60設計用於處理直徑達300 mm的晶片。可以在同一晶片上執行多個性能,並且每個性能存儲在數據庫中以供將來參考。此功能無需對每個晶片進行物理測量和比較。除了測量厚度外,YR-60還可以檢查晶片的形狀、尺寸、平坦度和幾何形狀。資產采用表面粗糙度測量來確保晶圓表面具有均勻的紋理。TOKYO SEIMITSU YR-60還提供了廣泛的應變測量,包括曲率、粘結強度、應力和熱剛度。來自YR-60的數據由幾個高級軟件解決方案進行分析,包括SEIMITSU的SEMITOOL Test Suite,它自動檢測並呈現圖像、表面特性和整體晶圓狀況報告。SEMITOOL Data Analyzer也被用來分析晶圓性能的特性,允許可靠的數據比較和無偏見的數據分析。TOKYO SEIMITSU YR-60是晶圓測試和計量的高度通用和精密的模型。其先進的相機技術、測量精度以及自動化的測量和分析能力使其成為各種復雜程度的半導體生產的理想選擇。
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