二手 VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 8 #293754273 待售

ID: 293754273
Profilometer (2) Chambers Roughness Vertical resolution: 6.55 µm 3D Topography measurement Stress and defects samples: 200 mm Step height repeatability: 7.5 A Step Sigma maximum sample thickness: 25.4 mm No PC.
VEECO、SLOAN和BRUKER是以材料分析和計量領域的先進技術解決方案而聞名的公司。VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8是一種精密的晶片測試和計量設備,結合了這三個行業領導者的專業知識和技術,為測量半導體晶片和其他薄膜材料的表面輪廓提供了全面準確的解決方案。VEECO DEKTAK 8系統的關鍵部件之一是其專有的手寫筆剖面儀技術,它以亞納米分辨率提供對表面粗糙度、步高和薄膜厚度的高度精確的測量。先進的手寫筆剖面儀由一個尖銳的菱形尖頭手寫筆組成,它掃描樣品表面,甚至檢測到高度和地形的最小變化。SLOAN DEKTAK 8單元配備了多種測量模式和分析能力,以適應廣泛的樣本類型和測量要求。這種多功能性允許用戶以高精度和重復性執行各種計量任務,如步高測量、薄膜厚度分析、表面粗糙度表征和線寬剖析。除了先進的測量功能外,DEKTAK 8機器還具有用戶友好的界面和直觀的軟件,可簡化測量和分析過程。該軟件允許用戶定制測量參數、數據分析設置和報告格式,方便生成準確詳細的計量報告,用於研究、開發和質量控制目的。BRUKER DEKTAK 8工具還提供了先進的自動化功能,如電動舞臺控制、多個樣品定位選項和批量測量能力,從而提高了高通量測試環境中的生產率和效率。這些自動化功能使用戶能夠在一次運行中對多個樣本執行快速而準確的測量,從而縮短測量時間並提高吞吐量。VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8資產的另一個顯著特點是它與廣泛的晶圓尺寸和材料兼容,包括矽、III-V化合物、藍寶石、玻璃和聚合物。這種多功能性使得該模型適用於半導體制造、材料研究、薄膜沈積等精密表面剖面和計量必不可少的行業的多種應用。總體而言,VEECO DEKTAK 8晶圓測試和計量設備代表了精確可靠的表面測量和分析的尖端解決方案。其先進的技術、用戶友好的界面、自動化能力以及與各種樣品類型的兼容性,使其成為半導體和材料科學行業研發、質量控制和工藝優化的寶貴工具。
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