二手 VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #293590373 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030是一種功能強大且可靠的晶圓測試和計量設備,旨在對各種基材的輪廓和厚度進行完整而精確的測量。具體來說，該系統是為精密金屬和半導體應用而設計的，能夠精確測量非常薄的金屬薄膜，如用於MEMS應用的薄膜。VEECO DEKTAK 3030采用獨特的掃描探針顯微鏡（SPM）技術,能夠以納米分辨率進行環境掃描測量。該單元能夠測量非常廣泛的線性和2D尺寸。測量精度保持在大面積上，SLOAN DEKTAK 3030能夠在整個試樣表面保持一定水平的穩定性。硬件和軟件系統堅固可靠，能夠在所有樣本上保持一致的可重復結果。DEKTAK 3030的其他標準特性包括大型直驅樣本級、高精度探頭、自動對焦機、先進的電機定位工具以及全面的數據采集和分析套件。大型采樣臺能夠快速、準確地導航樣品表面，即使在整個復雜曲線中也能保持一致的可重復性。高精度探針測量具有很高的精度，可以測量從大型特征到納米尺度特征的一切。同時，自動對焦資產能夠跟蹤表面地形，以保持精度，即使標本表面變化。先進的電機定位模型還能夠快速、準確地重新定位設備和樣品。最後,綜合分析套件對記錄的測量結果進行了全面分析。總體而言，VEECO/SLOAN DEKTAK 3030對於需要對金屬或半導體基板進行精確測量的應用來說是一個極好的選擇。該系統的高級硬件和軟件套件允許精確測量非常薄的薄膜和納米級特性。同時，大型直驅采樣臺、堅固的電機定位單元、自動對焦機保證了快速、無麻煩的測量。整個工具使VEECO DEKTAK 3030成為要求苛刻的晶圓測試和計量應用的理想選擇。