二手 VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9070971 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST晶片測試和計量設備是一種用於測量和分析晶片級半導體元件和結構的高度精確和可靠的系統。該單元設計用於精確和可重復性至關重要的研發或生產環境。它非常適合測量各種晶片材料上的單晶圓測量值，包括矽、砷化氙等。VEECO DEKTAK 3ST結合了接觸剖面儀和非接觸表面粗糙度測量。這包括使用機械手寫筆探針來確定表面地形和計算臺階高度。它還使用光學非接觸式激光位移傳感器來測量表面輪廓、介質粗糙度和其他參數。該機精度高,可測量高達100 nm的垂直分辨率。該工具提供了廣泛的晶圓測試功能,包括自動取樣、非接觸面分析、觸控筆掃描以及高級數據收集和分析工具。它包括一個基於軟件的界面，用於自動化過程控制和剖面圖報告。SLOAN DEKTAK 3 ST可以用於1D或2D掃描，以及時間平均平滑和高級統計分析。SLOAN DEKTAK 3ST具有先進的功能，包括能夠處理更大的晶圓，使用多個探測器和傳感器以獲得更大的靈活性，以及能夠執行3D測量。它還具有用於快速掃描和分析整個晶圓表面的內置特征。它與各種各樣的自動化晶圓處理系統兼容，可以在手動或自動化環境中使用。VEECO DEKTAK 3 ST包含了最先進的安全功能，例如用於用戶保護的封閉式護罩、用於不同應用的可互換探針、防塵蓋蓋以及易於維護和校準的功能。該資產可靠可靠,可實現一致、可重復的結果。它是計量應用的熱門選擇，包括故障分析、模型表征、汽車測試、設計驗證、薄膜表征和晶圓級質量保證。總體而言，VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST是一種先進的、高度可靠的晶圓測試和計量設備，能夠在各種應用中提供晶圓尺度半導體元件的精確測量。它能夠處理大晶片，提供多個探針和傳感器，執行1D和2D掃描和分析，並對整個晶片表面進行快速掃描和分析，使其成為研發、生產和計量應用的理想選擇。