二手 VEECO / SLOAN DEKTAK II #68582 待售
網址複製成功!
ID: 68582
Profilometer, includes microscope and monitor
Measurement display range: 20-65,000 nm or 200-655,000 angstroms.
VEECO/SLOAN DEKTAK II是一種晶圓測試和計量設備,用於測量現代半導體器件如納米級FET(場效應晶體管)上的臨界表面特征。該系統采用先進的原子力顯微鏡(AFM),實現了具有納米分辨率的晶圓的精確、詳細的三維映射。這有助於在幾個晶圓直徑步驟中構建和測試半導體器件,從而提供高精度、詳細和可重復的優越表面映射結果。VEECO DEKTAK II單元也非常適合更傳統的計量技術,如手寫筆和光學輪廓測量以及高級選項,如表面粗糙度、亞表面結構等。這臺機器的高級AFM能夠實現3D成像和研究,再加上獲得專利的「flex-drive」選項,使該工具具有極強的適應性。可以方便地配置和優化資產,以進行各種地形和表面結構測量,包括有有限數據集或新晶圓類型的測量。該模型還提供了最高級別的自動化操作之一,通過允許用戶僅根據設備收集的數據做出數據收集決策,大大減少了人工決策。這樣可以最大程度地減少人為錯誤,縮短測試周期,並減少晶圓測試期間花費的時間和金錢。此外,該系統功能強大,可以處理直徑從1英寸到8英寸的多個晶圓大小,並包括一個數據采集套件,其中包含多圖像采集以及統計計量等功能。總體而言,SLOAN DEKTAK II是一個可靠可靠的晶圓測試和計量單元,旨在滿足所有對精度、分辨率和速度的期望。這臺機器具有廣泛的自動化功能、與各種晶圓尺寸的兼容性以及通過其AFM和其他高級功能提供的靈活性,適合許多不同的測試應用。由於結合了先進的AFM和光學技術,DEKTAK II是任何半導體制造商都可以信賴的功能和成本效益很高的工具,以便獲得準確可靠的結果。
還沒有評論