二手 VEECO / SLOAN DEKTAK IID #9160091 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK IID是一種先進的晶圓測試和計量設備，設計用於對半導體晶圓材料進行快速、準確的分析。該系統由四個主要組件組成：掃描電子顯微鏡（SEM）、集成輪廓儀、粒子/金屬探測器和光學顯微鏡。集成剖面儀測量晶圓的幾何形狀，達到三維精度以及垂直位移和傾斜度。掃描儀在收集地形信息時沿著X和Y軸移動晶片。它可以測量小至0.1 μ m的特征，分辨率為0.25 μ m。粒子/金屬探測器是一種高靈敏度探測器，用於識別和定位晶圓表面的微量金屬元素和粒子，從而能夠及早檢測缺陷。光學顯微鏡是一種改進的數字顯微鏡，能夠放大到1600倍，並與SEM圖像叠加，以準確識別缺陷。VEECO DEKTAK IID還提供了易於使用的圖形用戶界面（GUI）。GUI允許用戶快速直觀地設置單元，方便各級用戶操作。機器包括一套全面的分析工具，使用戶能夠進行表面粗糙度、影印分析、步高測量等測試。為了獲得最大的正常運行時間和吞吐量,SLOAN DEKTAK IID的設計支持自動晶片加載和卸載,並具有多個sampleholder配置。樣品支架的設計便於插入、拆卸和交換。該工具還包括一個自動工藝校正資產，該資產動態調整其參數，以提高工藝優化的準確性。總之，DEKTAK IID是一種先進的晶圓測試和計量模型，旨在對半導體晶圓材料進行快速、準確的分析。它具有高靈敏度的粒子和金屬檢測器以及早檢測缺陷、易於使用的GUI、綜合分析工具、自動過程校正設備以及自動晶片裝卸支持。VEECO/SLOAN DEKTAK IID是半導體晶片測試和計量的理想選擇。