二手 VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #147177 待售

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ID: 147177
Surface scanner profilometer De-installed and crated.
VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si是一種高性能晶圓測試和計量設備,可提供無與倫比的精度和可重復性,用於測量矽和復合半導體基板的厚度和輪廓。該V-200設計為在自動化串聯模式和手動平臺模式下運行,能夠快速測量過程和描述晶片的特性。該V-200具有先進的光學檢測子系統和高光學精度的三軸掃描儀,以確保精確的運動和輪廓測量。高達7.62mm (300密爾)的垂直掃描範圍和15.25mm (600密爾)的水平掃描範圍為大型基板提供了充足的測量面積。該V-200不僅具有精確的掃描功能,而且還為流程開發、生產和研究應用提供各種數據收集、分析和報告功能。該軟件允許測試和計量過程的完全自動化,以及手動控制,具有用於遍歷臺階高度、凹坑和峰值的自動化例程。該V-200提供了許多操作員友好的功能,以確保準確性和可重復性。它有一個光學板,它提供精確的尺寸參考樣品水平,以消除對準問題。該系統還具有一個LED分析單元,可在整個測量範圍內提供均勻的照明和精確的測量。此外,在串聯模式下,通過使用獲得專利的「自動對齊焦點」過程實現精確對齊和可重復性,該過程包括粗細調整功能。V-200還配備了透鏡照明機,可產生均勻的照明,消除與光學和透鏡質量有關的操作員問題。該工具還允許使用各種光學透鏡和技巧來提高生產率。該V-200建立在經過現場驗證的平臺上,在整個制造過程中進行質量檢查,以確保長期耐用性和可靠性。資產由訓練有素的工程師和技術人員組成的團隊提供支持,並根據需要提供日常維護和支持。該V-200是一個通用的、高性能的晶片測試和計量模型,能夠快速測量和深入表征晶片。憑借先進的光學、先進的運動和輪廓掃描、直觀的用戶界面和自動化功能,V-200可快速、輕松地提供準確、可重復的結果。
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