二手 VEECO V200-Si #9235749 待售
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已售出
ID: 9235749
Surface profiler
N2 and CDA: Standard quick connects 7 mm tube
Exhaust: General exhaust, 125 mm
Communication:
Standard printer port
Standard monitor port
Operating system: Windows 98 Second edition
Processor: Pentium (r), 32.0 MB RAM
Vertical range: Up to 262 µm
Vertical resolution (At various ranges): 1Å/65K Å, 10 Å/655K Å, 40 Å/2620K Å
Scan length: 50 µm to 200 mm
Scan speed ranges: 3 to 218 Seconds
Stage leveling: Automatic & power leveling
Stylus: Diamond, 5 µm radius
Stylus tracking force: Programmable, <1-30 mg
Max sample thickness: 45 mm
Sample stage diameter, 8"
Sample stage translation:
X Axis: 200 mm
Y Axis: 200 mm
Sample stage rotation: Θ 360°
Magnification: 60x to 420x
Standard power: 240 V, 10 A.
VEECO V200-Si晶片測試和計量設備是一種緊湊、經濟高效的解決方案,用於測量半導體晶片在生產過程中的關鍵性能參數。它使用軟件控制的光學器件來測量晶圓表面的地形、厚度和均勻性。該系統還提供了一系列分析功能，以確保晶片符合所需的規格。VEECO V 200SI具有非常精確的掃描和測量單元,用戶可以快速輕松地分析晶圓的特性。該機提供0.3微米的分辨率和高達26mm x 26mm的測量範圍。顯微鏡具有高達1000倍的光學變焦和大視野，允許更大的視野，同時保持單個設備特征的細節完整。VEECO工具利用了多種軟件控制的計量方法，包括接觸掃描、非接觸掃描和光譜方法。這些技術使用戶能夠測量特征的高度並生成數據點以供查看。該軟件還提供了一系列數據分析解決方案，從地形數據的自動數字化到表面粗糙度評估。V200 SI還包括用戶友好、直觀的圖形界面和高級計算資源,使用戶能夠快速輕松地分析數據並創建全面的工程報告。此外,用戶還可以實時監視、分析和優化晶片性能,幫助他們確保整個生產過程中的質量一致。總體而言,DEKTAK V-200 SI晶圓測試和計量資產為自動晶圓測試和計量提供了一個非常復雜、方便的解決方案。其精確的測量和分析能力，加上直觀的圖形用戶界面，使其成為高精度晶圓檢測操作的理想選擇。此外,VEECO售後技術支持和培訓計劃確保用戶能夠充分利用他們的模型,並在生產過程中達到最高的準確性和吞吐量。
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