二手 VEECO V200-Si #9235992 待售

VEECO/DEKTAK V200-Si是一種精密晶圓測試和計量設備，設計用於測量半導體芯片層的厚度、平坦度和其他微觀結構特征。該系統利用先進的光學傳感技術來測量和分析晶片的表面地形，使其成為半導體工業研究和生產的理想工具。VEECO V 200 SI的光學傳感技術利用了兩種類型的掃描儀：超小型掃描鏡和低調掃描鏡。超緊湊的掃描鏡設計用於精確捕捉高粗糙度部位的地形，而低輪廓掃描鏡則為低粗糙度部位提供更高精度的測量。來自掃描的數據用於創建晶圓表面的3D地形圖，可用於分析表面特征，如晶粒尺寸、晶體結構和其他微觀結構缺陷。DEKTAK V200 SI單元還包括自動化數據處理和分析軟件。該軟件允許用戶創建用於測量晶圓內特定微結構特征的自定義測量。該軟件還使整個計量過程自動化，使用戶更容易、更高效。此外,DEKTAK V-200 SI使用通用語言接口進行編程,以確保數據易於理解並應用於其他系統。DEKTAK V200-Si還配有多種配件，可提高測量精度。這些附件包括可變大小的掃描儀、溫度穩定級和光纜。可變尺寸掃描儀可以調整以測量不同尺寸的晶片，而溫度穩定級可確保在溫暖和寒冷的環境中的準確讀數。光纜允許在晶圓和工作站之間高速傳輸數據。DEKTAK V 200SI是一種先進的晶圓測試和計量機器，設計用於半導體層的精確測量和分析。其高精度的光學掃描技術和自動化的數據處理和分析軟件使其成為測量和分析晶圓內微觀結構特征的理想工具。此外，它的附件使工具能夠處理各種各樣的晶圓尺寸和溫度。VEECO/DEKTAK V-200 SI是半導體工業研究和生產的強大而可靠的工具。