二手 VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING 1220 #9182605 待售

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING 1220是為工程和生產應用而設計的晶圓測試和計量設備。該系統提供了非常準確的結果,使工程師和過程工程師能夠快速評估產品質量並排除晶圓處理問題。VIEW ENGINEERING 1220集成了專有的數字成像掃描儀和光學硬件，以自動識別和測量晶圓性能特征。利用自動圖像分析程序對晶片結構中的缺陷進行定位，提供了非常準確的結果。GENERAL SCANNING 1220還提供了工藝參數的數據輸入，可用於檢測工藝參數與晶圓測量之間的相關性。1220的設計目的是在各種晶圓化學和尺寸上提供高通量、高精度的計量。該單元能夠以較高的掃描速度捕獲和測量晶片芯片，以評估高達6.00 mm的整個晶片厚度。它還可以提供對單晶矽晶片樣品的全面計量，使用光學顯微鏡在長達20毫米的面積範圍內多次測量樣品。機器的多功能測量功能還包括自動傾斜測量、集成聚焦和快速成像。此外,VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING 1220還具有多種功能,可簡化使用並提高準確性。工具的用戶界面分為不同的模塊,每個模塊專門用於特定任務。這通過以清晰直觀的格式向用戶展示集成和分析選項來簡化工作流程。此外,高靈敏度光學資產提高了測量精度,而自動XY掃描可確保每個樣品的可靠結果。VIEW ENGINEERING 1220是一種功能強大的晶圓測試和計量模型,旨在使用戶能夠快速準確地評估其晶圓的質量。該設備具有先進的光學掃描和分析功能，能夠準確評估多種不同類型的晶片，確保晶片的生產和產品質量。