二手 VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING View Bazic 8 #9105953 待售

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING VIEW Bazic 8是一種晶圓測試和計量設備，設計用於半導體制造的工業用途。它是晶圓參數精確測量的理想選擇，對各種試樣進行了綜合分析。該系統配備了高放大倍率光學圖像分析儀（OIA）。這樣就可以對測試晶片進行高對比度成像，並準確測量其復雜的物理結構和特性。VIEW ENGINEERING View Bazic 8由三個主要組件組成：操作員控制臺、主主機單元和OIA。運算符控制臺允許輸入不同的測量參數和設置以及控制整個設備。它還提供了一個全面的圖形用戶界面（GUI），方便快捷的數據解釋。Main Mainframe Unit通過集成相機傳感器、處理器和內存為機器提供計算能力。此單元能夠存儲和處理各種數據格式,並允許對圖像進行校準以進行精確測量。內審辦采用了多種功能，以確保準確測量。它包括具有4倍、10倍和20倍放大倍率的鏡頭、垂直CCD相機、高端圖像處理板和專有光源工具。透鏡提供了測試晶片的清晰視圖，並保證了到納米尺度的出色圖像分辨率。此外，CCD相機和圖像處理板使OIA能夠捕捉測試晶片的精確圖像，並以高精度測量其參數。專有光源測量入射光的強度和方向，以研究測試樣品的光學性質。GENERAL SCANNING VIEW Bazic 8是一種功能強大且高度精確的晶圓測試和計量資產，用於半導體制造。它能夠捕獲晶片的高分辨率圖像並精確測量其參數。內審辦憑借出色的圖像分辨率和對入射光的精確感測，確保了準確的分析和數據解釋。Operators Console為模型的所有功能提供了全面的GUI,從而保證了數據的輕松控制。因此View Bazic 8是工業半導體制造的理想解決方案。