二手 WENTWORTH 0-021-0200 #293634266 待售

WENTWORTH 0-021-0200是一種晶圓測試和計量設備，設計用於矽和復合半導體器件以及MEMS的半導體器件和晶圓級表征。這種先進的計量系統能夠進行各種類型的精確和精確的測試和測量。0-021-0200由多級、多軸采樣級和高分辨率叠加測量單元組成，精確測量多個器件參數，如介電常數、柵極電容、柵極至漏極電容等參數性能。該機包括一套全面的測量工具，包括CCD顯微鏡、數字成像軟件、熱控環境室以及精確的樣本跟蹤和分析軟件。WENTWORTH 0-021-0200提供了對各種先進半導體器件結構的精確測試,包括finFET、FD-MOSFET、III-V和Micro Electro Mechanical Systems （MEMS）體系結構。該工具配備了多達32個對準級、9軸運動控制、高精度級和具有高力分辨率的負載單元、快速樣品安裝選項以及用於各種測試任務的各種光學計量附件。0-021-0200采用高精度、高速掃描幹涉技術與光學圖像處理相結合，允許進行亞納米分辨率測量。該資產提供0.3至50.2微米範圍內的可重復測量和動態範圍，驗證晶圓級設備的設計和構造。WENTWORTH 0-021-0200設計用於在從研究和工程到生產計量的各種環境中進行快速、準確的測試。該模型提供了廣泛的高級錯誤檢測,包括集成的數據記錄和分析軟件,以及自動化的測試調度和報告生成。0-021-0200提供了一整套測試能力，使工程師、研究人員和生產人員能夠快速驗證半導體和基於MEMS的器件的結構完整性和熱行為。這種先進的晶圓測試和計量設備能夠超過當今新興晶圓級結構的準確性和精確度要求,在各種IC材料和設備中提供可靠和可重復的特性。