二手 WIS INC PDS 1020-G2 #9258990 待售

WIS INC PDS 1020-G2晶片測試和計量設備是一種精密分析工具,設計用於集成電路（IC）和復合半導體晶片的半自動檢查和分類。該系統能夠同時進行接觸電阻和光學顯微鏡（OM）測試，使其成為設備和功率性能分析的理想解決方案。PDS 1020-G2包括一臺裝有自動光源的玻璃管光學顯微鏡、電動級、高分辨率數字成像單元和一臺硬件可選的集成視覺機。數字成像工具利用一萬像素CCD圖像傳感器，以最大500倍的放大倍數捕獲晶圓表面的數字圖像。集成視覺資產包括先進的圖像處理算法，以準確檢測缺陷，並對捕獲的圖像進行測量。該模型還具有精密超聲波探測站和高精度運動控制設備，可以對試樣點進行綜合電阻測量。超聲波探測站能夠獲得高達10GHz的電阻，而運動控制系統則能在測量點之間快速移動探測點，以實現精確的電阻映射。還包括一個樣品支架平臺，以便在測試期間將晶片牢固地固定到位。除了物理測試外,WIS INC PDS 1020-G2還包括用於數據管理和數據演示的板載軟件。此單元支持2D和3D繪圖,以全面概述晶圓的性能,並提供一項功能,使用戶能夠比較多個設置並判斷最佳測試配置。此外，還包括復雜的分析後實用程序，以便更準確地解密測試結果。PDS 1020-G2是一種緊湊、易於使用的晶圓測試和計量機器，適用於各種半導體應用，從IC開發到工藝質量優化。它易於操作、精度高、軟件功能全面,是設備和電源性能分析的理想解決方案。