二手 WYKO / VEECO NT 3300 #9394879 待售

WYKO/VEECO NT 3300是一種晶圓測試和計量設備，設計用於高精度和重復性。它能夠以高精度和重復性測試高達4英寸的晶圓樣品。WYKO NT 3300高精度，可以測量厚度和面積到納米。它配備了一個創新的光學成像系統，能夠以高精度測量半導體晶片上的微小表面特征。VEECO NT 3300由一個高功率顯微鏡單元提供動力，該單元可以以高達200納米的分辨率提供晶圓表面的3D視圖。這允許對單個晶體管、焊盤和觸點進行精確的測試。顯微鏡還可用於小面積的地形測量和研究大面積晶片的表面。NT 3300具有廣泛的晶圓計量能力。這包括自動薄膜厚度測量、表面和邊緣粗糙度測量，以及分析半導體材料的光學特性。也可用於缺陷檢測，如邊緣斷裂、針孔缺陷、分層等。WYKO/VEECO NT 3300的用戶界面具有高度直觀和用戶友好的特點。它支持多種語言，用戶可以在觸摸屏顯示屏上輸入測量所需的參數。用戶還可以訪問軟件的高級圖形用戶界面，這使得從晶圓收集的數據的可視化變得容易。WYKO NT 3300包括一臺經Underwriters Laboratories （UL）認證的安全機器。它有一個特別設計的液晶顯示器（LCD）工具，以確保晶片不接觸任何危險材料。單獨的控制PC有助於確保晶片安全加載和卸載。VEECO NT 3300是一種高度通用的資產，可用於測試範圍廣泛的半導體材料，包括矽、氮化​​氙和氧化鋅錫。該模型還與各種設備兼容，從計量實驗室到生產線。NT 3300還配備了先進的熱管理設備，確保晶片保持在理想溫度範圍內進行精確測試。這使得該系統非常適合於高溫高壓半導體的測試。總體而言，WYKO/VEECO NT 3300是一個創新和可靠的晶圓測試和計量單元，旨在提供具有可重復性的精確測量。其廣泛的計量能力和直觀的用戶界面使得它成為晶圓測試的絕佳選擇。