二手 WYKO / VEECO NT 8000 #183083 待售
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單擊可縮放
已售出
ID: 183083
Optical profiler
Win XP-Pro sp3
100um/sec
Scan speeds, 8mm scan height
Scan speed 1x,3x,11x,20x
Three modes scan speed vsi, psi, evsi (enhance vsi)
200mm (8") scan stage computer control with encoders
Motorize 4 position turret with auto detect
Full automation with internal reference signal (laser guide)
Enable self calibrating accuracy over the entire scan range
Integrated air table
Objectives:
5.0x fov 2.47x1.88 with .55x; 50.0x fov 0.25x0.19 with .55x
5.0x fov 1.24x0.94 with 1.0x; 50.0x fov 0.12x0.09 with 1.0x
Including 10x lens
Light source using fiber to eliminate thermal interference
High speed auto focus, tip/tilt stitching optional (included)
2005-2006 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000是一種高性能的計量和晶圓測試設備，旨在為半導體制造過程提供更高的精度和可重復性。該系統由四個組件組成：定制的光學表面剖面儀（OSP）、基於光學的非接觸式3 D表面剖面儀（NCSP）、測量控制器以及用於分析和報告生成的軟件套件。OSP利用低相幹光源從表面掃描測量中獲得可靠的結果,而NCSP使用溫度控制的光學單元來測量3 D表面輪廓。兩者都使用高壓、高真空室進行樣品冷卻，並使用真空室進行晶片加載。測量控制器的設計是為了整合OSP和NCSP系統的結果，提供對測量過程的自動化控制，並提供高精度性能。它還提供了一個直觀的用戶界面，使用戶能夠輕松配置他們的計量和測試要求。WYKO NT 8000軟件套件包括數據采集過程和分析工具,用戶可以快速分析和顯示數據。該套件包括數據減少和糾錯算法等高級功能，允許用戶更準確地確定測量結果。此外,軟件套件還提供自動化的報告生成和存儲功能,允許用戶快速查看、報告和處理性能結果。總體而言，VEECO NT8000計量和晶圓測試機是尋求提高性能和精度的半導體制造商和研究人員的理想選擇。VEECO NT 8000將光學表面剖面儀和非接觸式3 D表面成像與一套功能強大且易於使用的軟件工具結合起來,使用戶能夠輕松監控、分析和優化其過程,以實現最高的效率和性能。
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