二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9235752 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是一款功能強大的X射線設備，能夠成像納米級的樣品。該系統采用最先進的掃描技術，產生分辨率高達1納米的高分辨率圖像。ADE NanoMapper提供對樣品表面形態和組成的全面分析。KLA NanoMapper的先天集成探測器能夠在5-50 keV的廣泛X射線能量範圍內捕獲高靈敏度圖像。這使操作員能夠創建多能量復合材料,以識別樣品表面上相對成分或對比度的變化。該裝置使用高速X射線發生器和直線電機旅行機，對掃描場提供精確控制。這樣就可以以最小的散焦來進行統一、超精確的掃描。這些掃描也是完全可編程的,可以準確捕獲和分析來自任何目標區域的數據。TENCOR NanoMapper還包括一套廣泛的軟件工具，如粒子分析軟件包，使高級粒徑和形狀分析。此外，形態分析模塊可以顯示樣品的表面粗糙度、界面地形和整體尺寸精度輪廓。NanoMapper具有幾個特點，使其成為半導體技術、微電子學研究、納米材料和生命科學等領域研究人員的理想選擇。例如，通過利用快速標本持有者，該工具可以在典型X射線儀器所需時間的一小部分內快速收集數千個數據點。其他高級功能包括自動曝光時間決策、用於大幅面視圖的用戶控制縫合以及用於粒子識別和定位的熒光成像功能。ADE/KLA/TENCOR NanoMapper還包括自動圖像對齊和失真校正。ADE NanoMapper是一種真正通用的儀器，為納米分析提供了無與倫比的精度和精確度。通過將最高分辨率的映像與全面的軟件分析工具相結合,用戶能夠快速準確地查看其數據。