二手 BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9133963 待售

BRUKER D8 Discovery是一種X射線光譜儀設備，設計用於表征材料的化學和物理性質，用於研究、質量控制和其他應用。該系統由一個X射線源、樣本區域和檢測器組成。X射線源提供單色和準直X射線光束探測樣品。樣品區裝有樣品支架，例如具有垂直和水平對準能力的樣品支架，用於定位感興趣的樣品。探測器用於收集和記錄發射的X射線。探測器可以是檢測晶體和閃爍計數器的組合，也可以是位置敏感的檢測器，如充氣比例計數器、永久準直閃爍計數器或半導體基多通道板檢測器。D8 Discovery unit能夠進行廣泛的X射線分析技術，包括單晶X射線衍射、粉末X射線衍射、X射線熒光（XRF）、X射線反射率（XRR）、X射線衍射地形、X射線光電子光譜測量（XPTION）。單晶X射線衍射通過測量衍射X射線束的角位置來確定樣品的結構。粉末X射線衍射被用於獲取關於樣品的晶體學結構、化學成分和相的信息。X射線熒光用於測定樣品的元素組成。X射線反射率用於測量樣品的電子密度剖面。X射線衍射地形用於測量樣品的表面形態。X射線光電子光譜用於測量樣品的化學成分和電子態。最後，吸收測量被用來定量地測量由於樣品性質的變化，例如濃度、密度或折射率所引起的吸收變化。通過提供靈活的用戶界面,BRUKER D8 Discovery機器使用戶可以輕松配置和操作各種X射線分析技術的工具。資產還能夠自動收集數據並提供實時反饋。D8 Discovery適用於從結構表征到質量控制的各種材料分析需求。這種高度通用的模型為科學家和研究人員調查材料的物理和化學方面提供了一個極好的平臺。