二手 FISCHER Fischerscope XDL 230 #9249505 待售
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ID: 9249505
X-Ray Fluorescence (XRF) spectrometer
Manual / Automated coating thickness measurement
Protective and decorative coatings
Mass produced parts and PC boards
X-Ray XDL-B Model series
Non-destructive thickness measurements
Analysis thin coatings
Measurements on mass-produced parts
PC Boards and solution analysis
Counter tube for precise measurements
FISCHER Fundamental parameter method
Coating systems
Solid and liquid samples
Detect up to:
(24) Elements in the range
From (17) Chlorine to (92) Uranium simultaneously
Measurement of electroplated mass-produced parts
Inspection of thin coatings: Decorative and chromium plating
Analysis of functional coatings: Electronics and semiconductor
Automated measurements: PC Boards.
FISCHER Fischerscope XDL 230是來自FISCHER Analytical的最先進的X射線設備。它允許通過其先進的X射線熒光技術進行快速、準確和可重復的樣品分析。XDL 230裝有CCD檢測器和便攜式樣本室，兩者均為X射線分析優化。由兩個1024 x 1024陣列組成的CCD探測器從樣品兩側捕獲X射線光譜。該陣列還針對低噪聲和高靈敏度進行了優化,從而實現了準確的樣本數據分析。樣品室是一個模塊化、便攜式的單元，可以很容易地運輸和設置。其優質設計確保了樣品檢驗和曝光的最佳條件。XDL 230具有先進的X射線檢測功能。其X射線能量範圍最大跨越15 keV，焦點大小在0.2微米至0.6微米之間。該系統還提供10個X射線曝光參數,允許用戶自定義掃描以獲得最高精度。XDL 230還能夠監測汙染水平,使其成為質量控制和環境測試的絕佳選擇。XDL 230還提供了許多易於使用的用於數據解釋的軟件工具。這些工具有助於用戶識別汙染物和測量樣品組成。該軟件還提供快速直觀的校準和調整工具,使用戶能夠快速優化其X射線結果。XDL 230還提供了一個自動化的數據導出單元,允許用戶共享其數據以進行進一步分析。總體而言,Fischerscope XDL 230是一臺高級X-Ray機器,提供強大的操作能力和復雜的軟件。XDL 230具有高靈敏度CCD探測器、綜合能譜和直觀校準工具，是快速準確的樣品分析的理想選擇。
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