二手 GE PHOENIX Nanomex 160 #293795179 待售

製造商
GE PHOENIX
模型
Nanomex 160
ID: 293795179
優質的: 2005
X-Ray system Geometric magnification: Up to 2130x Total magnification: Up to 13300x Detectability: 200 nm - 300 nm Contrast resolution: Down to 0.5% Imaging Mode: 2D Feature recognition: 400nm to 0.4µm X-Ray tube: Type: Open tube Transmission head Cone angle: 170° Filament: Tungsten hairpin Maximum tube voltage: Up to 180 kV Maximum tube Power: Up to 50 W Open tube сonfiguration Operating hours: under 100 High-power nanofocus tube: Voltage: 160 kV Power: 50 W Detectability: 200 - 300 nm Dual mode nanofocus tube: Voltage: 100 kV / 160 kV Power: 20 W Detectability: 200 - 300 nm Vacuum system: Oil-free turbo molecular pump Roughing pump Manipulator: X Scanning area: 460 mm x 360 mm Y Scanning area: 610 mm x 510 mm Maximum sample size: 680 mm x 635 mm Maximum sample weight: 5 Kg View angle: 70° Rotation: 0° to 360° Axis speed: 10 microns/sec to 8 mm/sec Control: Joystick control / Mouse CNC Detector: Dual-field image intensifier, 4" Digital camera, 2 MP TFT Display, 20" 16-Bit digital a-Si diode array detector Manipulation: Oblique view: 0° to 70° Tilt: ±30° Rotation: 360° CT: Geometric magnification: 200x Resolution: Down to 2 µm 2005 vintage.
GE PHOENIX Nanomex是專門為快速納米級和納米級分析而設計的X射線設備。通過使用專門的納米探測裝置,PHOENIX Nanomex能夠探測發生在納米尺度上的現象。它具有一個短通能量濾波器,允許用戶獲得納米材料的精確測量,讓他們獲得洞察自己的屬性。GE PHOENIX Nanomex系統包括一個場發射電子顯微鏡(FEM)和一個flexo-x-ray源,設計為協同工作以最大化性能。FEM利用電子產生超高分辨率納米材料的高能圖像。Flexo-x射線源從可變強度發射源產生X射線,允許使用者調整能量和強度,以最適合其特定的分析應用。成像工具的組合產生了優越的納米級成像,圖像采集速度由於X射線單元產生曝光倍數比光學顯微鏡短幾個數量級的圖像的能力而大大提高。此外,該機器還可以檢測和測量各種特性,包括各種應力和應變、電學特性以及微觀結構信息。Nanomex工具配備了一個易於使用的軟件套件,用於圖像分析和後處理。此套件包括支持多個2D和3D圖像分析、定量分析和曲面重建的功能。它還使用戶能夠以多種格式導出結果,包括jpeg、tiff和avi,並提供統計建模工具。總之,GE PHOENIX Nanomex是需要納米級和納米級分析的人的理想工具。它結合了強大的成像工具和方便的軟件套件,可實現圖像采集的精確度、速度和自動化。它具有廣泛的特性和能力,可用於多種應用,包括材料研究、半導體生產和檢驗以及醫學研究。
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