二手 JORDAN VALLEY QC3 #9122833 待售
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已售出
ID: 9122833
晶圓大小: 8"
優質的: 2012
High resolution x-ray diffractometer (HR XRD), 8"
Slots:
(1) 6” Wafer
(4) 4” Wafers
(4) 3” Wafers
(8) 2” Wafers
X-Ray source:
Sealed tube
Panalyical
C-Tech tube with copper anode
Power operated: 3 kW
Typically operated: 40 mA / 40 kV
Incident beam optics (Parameters):
Channel cut crystal
Ge (002)
Beam divergence: ~25 arcsec
Diffracted beam optics (Parameters):
Triple axis crystal cut asymmetrically to Si(022) plane
With acceptance angle: 12 arcsec
Motorized detector slit
EDR (Enhanced dynamic range) detector: Scintillator
Dark background: about 0.4 cps with >20 Mcps saturation level
Recent measurement:
Si (001)
Substrate (004)
Peak: 2.03 E7 cps
FWHM: 0.015º
Software:
Control 2: Version 3.0.0.20
Bede hardware: Version 3.0.0.18
Contour: Version 2.8.0.8
RADS: Version 5.2.4.0
Quick graph: Version 2.1.0.4
Peak split: Version 2.9.0.3
Bede 3D: Version 1.3.0.9
JV Interlock control: Version 1.5.0.8
JV X-Ray control: Version 2.0.0.20
Fingerprint generator: Version 1.9.0.2
Includes:
Common substrates
Reflections
Currently installed
2012 vintage.
JORDAN VALLEY QC3是為工業應用而設計的高性能X射線成像設備。該系統旨在為質量控制和測試過程應用提供快速、準確和高性能的成像解決方案。它能夠成像各種材料，如金屬、塑料、木材和瓷磚。該單元的核心是一個X射線源，是一個能夠產生千伏和兆伏範圍內的X射線光子的能源。該源將X射線輻射到樣品中，樣品穿過材料並產生顯示在計算機監視器上的圖像。機器可以提供各種圖像,包括線/邊掃描、橫截面圖像和曲面輪廓。JORDAN VALLEY QC-3工具的設計是高度可定制的,有多個X射線源、探測器和準直儀可供使用。該資產還設計為用戶友好，能夠選擇和存儲特定參數以供將來使用。該模型采用強大的圖像處理算法設計，允許用戶區分特征，如邊緣和缺陷，並優化圖像對比度。除了成像能力外，該設備還被設計為能夠測量薄膜含量，包括厚度、塗層特性、結晶結構和材料成分。該系統還配備了一個緊急輻射探測器，能夠從表面檢測輻射，以提高X射線成像精度。該設備配備了多種安全功能，以保護用戶免受任何潛在的輻射暴露風險。該機設計有故障安全機構，如果檢測到高水平的輻射，就有能力將工具關閉。該資產還有一個內置的安全互鎖模型，設計用於在X射線源向外界開放的情況下關閉設備。總體而言,QC3是一個高度先進和可靠的X射線成像系統,能夠為質量控制和測試過程應用提供快速、準確和高性能的圖像。其可自定義的設計和緊急輻射探測器使其成為許多行業用戶的理想解決方案。
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