二手 KLA / TENCOR NANOMAPPER #9205607 待售

KLA/TENCOR NANOMAPPER是一種最先進的X射線檢測設備，設計用於分析樣品介電材料內的亞微米特征。該系統利用創新的X射線光學和專有的圖像處理算法,為復雜且具有挑戰性的材料創建高分辨率、經濟高效的缺陷分析。KLA NANOMAPPER被設計用來生成材料中包含的不到1微米的結構的高分辨率圖像。通過使用X射線光學和專有的圖像處理算法，該單元允許在非導電材料的微量和納米尺度上進行自動缺陷分析和缺陷大小確定。本機由光學成像和圖像處理兩部分組成.觀看者使用特殊的超短脈沖激光器獲取介電材料內結構的高分辨率圖像。激光脈沖調整到樣品材料的特性，允許優化成像分辨率和曝光時間。工具的圖像處理部分使用專有算法來檢測和量化成像資產檢測到的任何缺陷或材料缺陷。這些算法應用復雜的邊緣檢測、粒度和材料識別技術來識別和突出X射線成像模型光譜範圍內的缺陷特征。除了正確識別缺陷之外，算法還可以測量出現的缺陷的大小、形狀和嚴重程度。這使用戶能夠快速識別電介質內無法用肉眼發現的問題。TENCOR NANOMAPPER是尋求在小於1微米的非導電材料中進行準確、可重復缺陷分析的理想解決方案。通過結合獨特的激光成像和專有的邊緣檢測技術，設備提供了一個進入微觀世界的高分辨率窗口，可以很容易地進行分析和量化。該系統也易於使用，需要最少的設置和操作員知識才能在短時間內進行多次分析。NANOMAPPER註重精度和速度,為各種應用程序提供業界領先的檢查功能。