二手 OMEGA TXRF #293629156 待售

OMEGA TXRF（Total Reflection X-ray Fluorescence）是一種分析技術，利用X射線光束的全外反射，以獲取關於樣品表面元素和/或分子組成的信息。它比傳統的X射線熒光技術的主要優點是樣品制備要簡單得多，因為不需要研磨樣品。取而代之的是，X射線束聚焦在樣品表面，然後從表面完全反射，並通過位於盡可能靠近樣品表面的探測器。通過測量全反射X射線的能量並應用光元素檢測，可以重建樣品表面上材料的濃度和元素組成。TXRF在考古冶金、化學和食品分析、工業冶金、環境分析和醫學研究等領域有許多應用。OMEGA TXRF背後的技術包括一個X射線源和一個X射線探測器。TXRF中使用的X射線源通常是密封管，或是旋轉陽極。它們以不同的能量發射X射線，允許用戶選擇特定的元素或類型的材料進行分析。X射線探測器處理通過全反射進入的X射線，產生被稱為能譜的圖形。這種能譜，連同樣品的元素組成，被用來解釋反射輻射所包含的信息。OMEGA TXRF系統的靈敏度水平被稱為背景減法的過程提高。這是通過將參考樣品投射到樣品表面上，並測量通過參考材料的反射X射線的能譜來完成的。然後，這些能譜數從樣品表面的能譜中減去，導致對表面組成的解釋增強。這對於鑒定樣品中的微量元素和濃度很有用。TXRF通過提供相對較快的結果、精確的量化和與許多類型樣品的兼容性,提供環境幫助。當用於識別土壤或水樣本中的汙染物或汙染物時，它也是一種快速準確的工具。總體而言，OMEGA TXRF是一種強大、快速和準確的分析技術，用於確定樣品表面的元素或分子組成。該技術應用廣泛，用於研究、工業和環境分析。