二手 PANALYTICAL PW 1480 #293631546 待售

PANALYTICAL PW 1480
製造商
PANALYTICAL
模型
PW 1480
ID: 293631546
Wave dispersive X-Ray spectrometer Elemental analysis beads sequential 60 kV High intensity X-Ray tube, 3kW Rh-anode, 100 kV Generator, 3 kW Proportional flow counter Scintillation counter Fine collimator Universal collimator Collimator mask: Φ28 mm Tray for loader with 6-Positions Analytical system Crystal types: LiF 200 LiF 220 Pe 002 PX-1.
PANALYTICAL PW 1480是一種X射線設備,旨在幫助材料科學研究人員。它是一個多用途、高性能的系統,用於表征材料的微觀結構和形態特性。該單元基於X射線衍射法,結合了單色CuK α X射線源和具有兩個運動軸的測角儀。該機包括一臺高分辨率CCD相機,用於捕獲衍射數據。該工具能夠對各種材料進行分析,包括金屬、合金、塑料、陶瓷、半導體和其他材料。它使研究人員能夠定性和定量地確定晶體學相組成,以及測量其他微觀結構特性,如晶粒大小和紋理。此外,資產的解析能力可以通過使用多種特殊用途的晶體來擴展,例如萊特爾型的布拉格-布倫塔諾(BB)幾何。這允許研究各種影響,如微鏈、應變梯度、點缺陷和各種材料中的雜質。該模型支持一套廣泛的樣品制備技術,並能夠定制檢測器和端口的選擇,以滿足用戶的需求。它具有一個固態探測器,可以用來探測大約一百萬個元素,而蒸發探測器可以用來測量微量成分。該設備還包括一個軟件套件,允許分析和解釋實驗期間收集的數據。這包括各種分析算法,以及允許研究人員查看其結果的可視化工具。總體而言,PW 1480是一個先進和高度通用的X射線系統,使研究人員能夠表征樣品到微觀結構水平。它能夠分析各種材料並測量各種特性。此外,專有軟件和專用晶體允許用戶將他們的研究範圍擴展到微鏈、應變梯度、點缺陷和雜質等領域。
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