二手 PANALYTICAL XPert Pro #9108733 待售
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已售出
ID: 9108733
優質的: 2009
X-Ray Diffractometer
Goniometer : PW3050/65
MRD cradle : PW3060/20
Incident beam path
(1) X'Pert tube : PW3373/10 Cu LFF DK184330
(2) X-ray mirror : Inc. Beam Cu W/Si (hybird MRD)
(3) Monochromator : Inc. Beam 2xGe220 Cu Asym. (hybird)
Diffracted beam path
(1) Monochromator : Diffr. Beam Triple axis, 3xGe220 Cu Sym.
(2) Detector : PW3011/20 (Miniprop. large window)
2009 vintage.
PANALYTICAL XPert Pro是一款功能強大的X射線衍射儀(XRD)設備,用於高分辨率、全程X射線衍射分析。它能夠提供高分辨率的晶體學、相位識別、晶體結構的細化和晶體材料的定量分析。該系統由過濾過的X射線源、樣本室、X射線探測器以及相關的計算機控制和數據采集單元組成。PANALYTICAL X'PERT PRO機是一種交鑰匙工具,需要很少的用戶交互,可以快速方便地操作。它設計小巧輕巧,因此很容易從一種儀器移動到另一種儀器,可以帶到現場評估。基於PC的X-PERT PRO集成控制中心可快速建立與XRD檢測器的通信,並使您能夠完全控制資產的參數。XPert Pro配備了高分辨率X射線源,產生強烈的X射線脈沖,經過過濾,以便進行極其敏感的X射線研究。經過過濾的X射線脈沖隨後被送至樣品室,該室保存待研究的樣品。X射線與樣品和衍射相互作用,產生稱為衍射圖的獨特圖樣,由XRD檢測器記錄。X'PERT PRO可用於分析廣泛的晶體化合物,如金屬、陶瓷、礦物、聚合物和半導體。它配備了PANALYTICAL開發的先進數據采集軟件,提供各種計算和數據量化工具。這包括定量晶體尺寸、晶格參數選擇、應變測量和相位識別。由於PANALYTICAL X-PERT PRO的樣品處理時間很快,可以在幾分鐘內產生結果。PANALYTICAL XPert Pro是各種行業必不可少的工具。它有助於確定晶體大小和晶格幾何形狀,以及礦物相的鑒定。也可用於檢測裂紋、晶體生長等內部缺陷。PANALYTICAL X'PERT PRO是一種可靠、堅固的XRD模型,旨在提高從晶體材料獲得的結果的質量和準確性。
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