二手 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #293652326 待售

PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830
ID: 293652326
XRF Wafer analyzer.
PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是為實驗室結構分析而設計的X射線衍射儀設備。它是一種多用途的儀器,允許廣泛的應用,包括定性、定量和深入的結構分析。PHILIPS PW 2830由源、樣品室、單色儀、探測器和相關電子設備組成。X射線源由電子電源驅動的X射線管組成。X射線管的高壓電源可設置高達40 kV,通常在25 kV下運行。對光源進行準直以產生發散度為1-2.5 mrad的光束,光束輪廓可調節以給出所需的分辨率。樣品放置在樣品室中,在其中暴露於X射線光束。該室配有一個機動機械手,用於定位樣品。樣品幾乎可以在任何構型中定向,允許研究各種類型的晶體結構。單色儀由一個X射線鏡和一個能量濾鏡組成。X射線鏡反射入射X射線束並將其引導到樣品上。能量濾波器用於消除雜散X射線並選擇所需的X射線能量。單色儀還提供了光束的可調準直,從而提高了衍射圖的分辨率。PANALYTICAL PW 2830系統的檢測電子設備由探測器、放大器和脈沖整形電路組成。檢測器是一種半導體,通常是一種具有可滲透表面的基於矽的器件。放大器用於提高檢測器的靈敏度。脈沖成形電路用於對檢測器信號進行調節,確保只將相關信號傳遞到數據采集單元。PW 2830機器能夠進行各種類型的衍射,包括平面內、平面外和飛行時間實驗。此外,PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830可以生成多種圖形,包括單晶跡線圖和Debye-Scherer圖。該工具還配備了軟件,允許數據處理和分析。總體而言,PHILIPS PW 2830是一種功能強大、可靠的X射線衍射儀資產,已被廣泛用於實驗室晶體結構研究。它能夠在相對較短的時間跨度內提供高質量的結果,並配備了多種功能來協助此類調查。
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