二手 PHILIPS / PANALYTICAL PW-2830 #293812600 待售

ID: 293812600
XRF Wafer Analyzer Inlet Flange: DN 160 ISO-K Exhaust Flange: Typically KF25 Pumping Speed (N₂): Approximately 430 l/s to 510 l/s.
PHILIPS/PANALYTICAL PW-2830是一種先進的X射線設備,設計用於材料科學、制藥、地質、環境研究和生物化學等各個領域的分析和研究應用。這種X射線系統是在微觀層面分析材料組成、結構和性質的重要工具。飛利浦PW-2830具有強大的X射線源,產生高能X射線,能夠穿透各種材料,提供有關其元素組成和晶體結構的詳細信息。該單元配有高分辨率探測器,捕獲X射線與樣品相互作用時產生的衍射圖樣,從而可以精確測定晶體學數據。PANALYTICAL PW-2830的關鍵組成部分之一是測角儀,這是一種精密的儀器,能夠在測量過程中進行精確的樣品定位和操作。測角儀允許自動掃描和數據收集,使機器高效和用戶友好。此外,該工具還配備了專用軟件,便於數據分析、解釋和可視化。PW-2830提供了廣泛的分析技術,包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光(XRF)和全反射X射線熒光(TXRF)。XRD用於確定材料的晶體結構,XRF用於元素分析。TXRF是一種高度敏感的技術,適用於低濃度樣品中的微量元素分析。資產支持多種樣品類型,包括粉末、薄膜、液體和固體。提供不同的樣品持有者和附件,以適應每個應用程序的具體需求。PHILIPS/PANALYTICAL PW-2830能夠分析從微克到毫克的各種樣本量,使其能夠滿足不同的研究要求。飛利浦PW-2830以靈敏度高、精度高、可靠性高著稱,使其成為進行先進材料表征研究的研究人員和科學家的首選。該模型可以對材料的化學成分、相位鑒定和結構特性提供有價值的見解,有助於新材料和新工藝的發展。綜上所述,PANALYTICAL PW-2830是一種先進的X射線設備,為廣泛的研究應用提供先進的分析能力。憑借其高性能組件、直觀的軟件界面和靈活的樣本處理能力,PW-2830是科學家和研究人員尋求在微觀層面探索材料性質和行為的不可或缺的工具。
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