二手 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9209447 待售

ID: 9209447
XRF Wafer analyzer.
PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是一種X射線系統,廣泛應用於工業應用,用於檢測故障和缺陷。此設備具有極高的分辨率,能夠檢測到最小的故障。它具有廣泛的應用範圍,既可用於缺陷檢測,也可用於分析非金屬材料。PHILIPS PW 2830由源單元、探測器單元和控制單元組成。源單元包含一個X射線源和管、真空泵、電源、冷卻風扇和控制設備運行的PCB。這個單元還能夠調節X射線脈沖的能量和持續時間,從而允許最佳結果。探測器單元用於檢測源單元生成的X射線。它由將X射線轉換為可見光的閃爍屏幕和捕獲這種光的CCD相機組成。探測器單元通過電纜連接到控制系統,該電纜允許傳輸控制命令和數據。控制單元負責控制源和探測器單元以及將檢測到的X射線信號轉換為數字圖像。PANALYTICAL PW 2830提供了比25 µm更好的極高分辨率,這使得即使是最小的故障和缺陷也能被檢測出來。它能夠檢查尺寸從0.8毫米到150毫米不等的樣品。該設備可用於同時分析多達三個樣本,設計用於快速、低噪聲操作。它還配備了小波變換和圖像增強濾波器等先進的信號處理技術,能夠檢測到甚至最小的缺陷。此外,PW 2830采用直觀的軟件界面,操作簡單明了,用戶可以快速輕松地調整曝光時間、膠片處理設置和圖像增強濾鏡等參數。PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是一種可靠且用途廣泛的X射線系統,在工業上具有廣泛的應用。由於其分辨率高、操作快,是檢測金屬和非金屬材料故障和缺陷的理想工具。
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