二手 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9211899 待售

ID: 9211899
晶圓大小: up to 12"
優質的: 1999
XRF Wafer analyzer, up to 12" 1999 vintage.
PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是一種為工業應用而設計的X射線衍射儀設備。該系統能夠分析廣泛的樣品類型,包括聚合物、多晶和單晶,甚至玻璃。它的高光澤X射線源和靈活的探測器選項提供快速和準確的測量。該單元由多個組件組成,包括X射線源、樣品支架、移動機、測量塔和探測器。X射線源是一種高亮度鉬陽極X射線管,可以提供可變強度的X射線輻射。樣品支架將樣品牢固地固定在適當的位置,而移動工具允許樣品旋轉和角移動。測量塔內裝有X射線源、探測器和單色儀,用於過濾和測量X射線輻射。PHILIPS PW 2830在探測器及其放置方面是可定制的。選項包括Peltier冷卻矽條探測器或閃爍探測器陣列,以及其他必要的硬件,例如真空光學器件和可調準直。它還提供了一個樣品環境室和多吸塵器,用於進一步定制,包括在空氣或真空中的高溫測量。PANALYTICAL PW 2830的樣本分析簡單快捷。一旦樣品被放置在樣品支架中,並且檢測器被選中並掛載,就可以簡單地設置掃描參數並開始測量。數據實時采集,可以通過各種方式進行分析,如繪制相對強度、峰值位置、峰值強度或背景形狀等等。通過對PW 2830樣品的分析得出的數值可用於研究被測試材料的物理和化學性質。它將高質量的數據與用戶友好的編程相結合,使得這種X射線衍射計成為廣泛工業應用的理想資產。
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