二手 RIGAKU R-AXIS IV++ #9184694 待售
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ID: 9184694
Image plate detector
2D X-Ray detector system
Reader section:
Reader device
Sample axis (Φ-axis: standard, K-goniometer: option)
Camera length adjustment section
Optics section:
Graphite monochromator optics
Mirror-mirror optics
Multilayer-film mirror
Reader section:
White IP size: 300 x 300 mm
(2) Blue IP size: 200 x 200 mm
Readable pixel size:
White IP: 100 μm x 100 μm or 200 μm x 200 μm
(2) Blue IP: 50 μm x 50 μm
Reading time:
100 seconds when the 100 μm x 100 μm size is used
50 seconds when the 200 μm x 200 μm size is used
180 seconds when the 50 μm x 50 μm size is used
Laser light source: Semiconductor laser (maximum rating: 35 mW)
Detector: Photomultiplier tube
Dynamic range: 1 to 1.04 x 106 ADU
Reading sensitivity: (2) counts/X-ray photon
Background:
Sigma value: 1.0 photon/pixel or smaller
Erasure time: 20 seconds
Controller section:
Data conversion: ADC/20-bit
Data transfer: PIO System
Control: RS-232C
HV: -600 V
ϕ-Axis stage section:
Goniometer steps: 0.002°
Maximum speed: 720°/min
Manual rotation: 360° free rotation
Height adjustment range: ±15 mm
Beam stopper: Automatic escape mechanism incorporated
Camera length adjustment range: 70 to 300 mm
Camera length indicator: Digital (Minimum digits: 0.1mm)
Telescope: Erect image, 40X ( collapsible)
Goniometer head used: IUCr 49 mm type (64 rnm type usable)
Reader section:
Reader main body set
Vacuum pump (with a connection tube)
Connection cables
Reader/Φ axis stage connection cable
Reader/controller connection cable
Controller section:
Controller set
Connection cables:
Controller/reader connection cable
Controller/CPU connection cable
Controller/X-ray generator connection cable
(2) Enclosure color types: Black and blue.
RIGAKU R-AXIS IV+++是一種最先進的X射線設備，設計用於非結晶和結晶材料的定性和定量分析。該系統可以快速準確地確定各種樣品體系結構中材料的元素和相組成。R-AXIS IV+++包括一臺裝有4 kW功率容量X射線管的X射線發生器，以及專門設計的用於樣品定位的2D/3D樣品支架。2D樣品架能夠攜帶直徑達500毫米的樣品，而3D樣品架允許容納尺寸大於500公斤的不規則形狀樣品。該單元還裝有高速測角儀頭，用於旋轉X射線光束中的樣品，以精確測量所有X射線衍射（XRD）角。樣品支架與600毫米長的分析儀晶瑩剔透設計相耦合,可在樣品上安裝,配置為與X射線光束共面,從而使XRD機器具有最佳性能。RIGAKU R-AXIS IV+++具有高分辨率探測器，17,000元線性位置敏感探測器采用512 x 1024像素探測器陣列，放大鏡構造在5軸操縱器上。這允許從10-10000 計數/s之間的級別收集高分辨率2D XRD數據,從而能夠快速準確地確定材料的組成和結構。該工具還配備了計算機接口，以便實時獲取和顯示XRD數據，並將結果與標準頻譜庫進行比較。R-AXIS IV+++支持對多種材料進行分析，如粉狀、顆粒化、油嵌入、原位樣品，用於薄膜分析、微XRD分析、結構分析、化學分析等多種應用。資產也非常靈活，允許定制樣本準備、測量、控制和數據分析過程。總體而言，RIGAKU R-AXIS IV+++是一種功能強大的高級X射線模型，為用戶提供了一系列執行高級X射線和材料分析的功能。它具有高度的通用性、魯棒性,並在幾種不同的應用程序中為用戶提供出色的效果。
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