二手 RIGAKU Wafer X-300 #9145497 待售

RIGAKU晶圓X-300是為高能應用而設計的最先進的X射線設備。該系統的主要目的是在原子或接近原子尺度上測量材料的物理性質，如應變、摻雜和紋理。該單元利用高能量源和大面積閃爍器，產生高分辨率的樣品圖像，厚度可達7海裏。RIGAKU WAFERX 300的來源是一臺100 keV X射線發生器，產生廣泛的X射線波長。這樣可以檢查厚度最大為7 nm的各種異構材料和結構。機器由專門設計的控制面板控制，提供對X射線劑量、光束對準、曝光時間的精確調節。晶圓X-300圖像檢測器使用的閃爍體是一個大面積（260 x 215 cm）和波長選擇性閃爍體，由一種鎘-鋅化鋅（CZT）材料制成。閃爍體能夠探測能量高達100 keV的X射線光子。該探測器還具有高量子效率，對高能X射線的檢測效率高達95%。除了源和圖像檢測器，WAFERX 300還包括一個自動化的樣品處理平臺。此平臺允許從工具自動加載和卸載示例。該平臺還有幾個專用的示例操縱器，允許外部示例操作或處理，而無需人工幹預。資產設計靈活,允許根據個人需要進行定制。RIGAKU晶圓X-300可以配置一系列探測器、X射線源、物鏡和熒光粉。此外,還包括一個可定制的軟件包,用於數據采集、圖像處理、分析和報告。總體而言，RIGAKU WAFERX 300是一種高度精密的X射線模型，適合多種高能應用。該設備的設計結合了一系列先進功能，包括高能源、波長選擇性閃爍體以及自動樣品加載和操作。晶圓X-300能夠產生厚度不超過7 nm的異構樣品的高分辨率圖像，使其成為材料研究的寶貴工具。