二手 TDK AFM 15 #9208727 待售

TDK AFM 15是TDK公司開發的一種用於掃描表面微觀結構的自動力顯微鏡（AFM）。它以最新的AFM技術為基礎，具有一系列的特點，使其成為研究和測量表面微觀結構的完美儀器。TDK AFM-15是一種三軸掃描設備，由光學設備、機械級和探針組件組成。光學系統提供可視化，允許高分辨率成像的顯著分辨率。機械級可實現精確定位,而探針組件提供了廣泛的掃描可能性。探針的直徑只有10納米，可以對細微的表面微觀結構進行詳細掃描。AFM 15提供了多種掃描曲面的模式。這些包括敲擊模式、接觸模式、動力光譜、懸臂跟蹤。每種模式都是為測量表面微觀結構的不同性質而設計的。例如，在敲擊模式下，探針的尖端以2到10納米的振幅振蕩，使得能夠以納米尺度分辨率掃描表面的優秀圖像。使用AFM-15還允許各種數據采集方法和圖像處理。為此，單元中集成了幾個不同的軟件包，如AutoScan軟件、TLMAP軟件和TrueHeight軟件。這些軟件包提供了廣泛的功能，包括各種型號和測量，以及用於校準機器的不同參數和功能。因此，TDK AFM 15是一種通用且方便用戶的儀器，用於測量細膩的表面微機械性能。憑借其高度敏感的探測器、高級軟件包和映像功能,TDK AFM-15可靠且極其準確。它是有興趣研究任何表面結構微觀細節的研究者的理想選擇。